硅（Si）红外窗口片

硅窗口片用于红外光学系统的透射与保护。选型时应同时明确工作波段、窗口厚度、使用温度和镀膜要求。

材料参考

实际透过率随材料、厚度、温度和膜系变化。硅在可见光区不透明，不使用633 nm可见光透射测试作为本产品的默认透射波前验收口径。

定制与验收要求

请提供外形尺寸、厚度、数量、工作波段、入射角及使用环境。尺寸与厚度公差、通光孔径、表面质量、面形、透射波前、平行度和保护性倒角，均以双方确认的图纸及报价为准。

面形与透射波前分别约定；验收时应写明测试波长、有效孔径、指标定义与测量方法。膜系和透过率指标按应用评估，不以材料透射范围替代成品实测曲线。

按规格报价

提交硅窗口片需求，获取定制报价；也可将图纸发送至 info@jsoptic.com。请在需求中注明产品名称及已知参数。

材料参考：Edmund Optics窗口选型资料及Thorlabs窗口材料选型资料。上述为公开材料参考，非京盛出厂检测报告。